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【普樂(lè)斯】AOI設(shè)備-AOI光學(xué)自動(dòng)檢測(cè)設(shè)備-Wafer AOI系列

品牌：普樂(lè)斯
名稱(chēng)：AOI設(shè)備-AOI光學(xué)自動(dòng)檢測(cè)設(shè)備-Wafer AOI系列

訂購(gòu)熱線：400-816-9009

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產(chǎn)品特點(diǎn)

1、支持4/6/8英寸晶圓及切割環(huán)

2、2500萬(wàn)像素分辨率，AI深度神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)加持
3、自動(dòng)光學(xué)對(duì)焦、位置矯正、物鏡切換
4、簡(jiǎn)易程式制作，減輕操作人員負(fù)擔(dān)

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產(chǎn)品參數(shù)

型號(hào)	Wafer AOI系列
測(cè)試對(duì)象	支持4/6/8英寸晶圓及切割環(huán)
載臺(tái)	微孔陶瓷X/Y/R
相機(jī)像素	2500萬(wàn)像素高分辨率
可檢測(cè)平面	AI深度神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)加持
顯微鏡光學(xué)系統(tǒng)	5輪物鏡轉(zhuǎn)換器，配備2X，5X，10X，20X顯微物鏡
光學(xué)模式	自動(dòng)光學(xué)對(duì)焦，自動(dòng)位置矯正，自動(dòng)物鏡切換
計(jì)算效率	多服務(wù)器分布式計(jì)算提速
控制方式	簡(jiǎn)易程式制作，減輕操作人員負(fù)擔(dān)
圖像系統(tǒng)	彩色圖像Review系統(tǒng)
擴(kuò)展升級(jí)	擴(kuò)展兼容12英寸晶圓及切割環(huán)

注：以上參數(shù)僅供參考，本公司可能對(duì)相關(guān)產(chǎn)品參數(shù)進(jìn)行調(diào)整，如有變動(dòng)，恕不再另行通知。若有不明處，歡迎來(lái)電詢(xún)問(wèn)。

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工作原理

AOI檢測(cè)技術(shù)應(yīng)運(yùn)而生的背景是電子元件集成度與精細(xì)化程度高，檢測(cè)速度與效率更高，檢測(cè)零缺陷的發(fā)展需求，其最大優(yōu)點(diǎn)是節(jié)省人力，降低成本，提高生產(chǎn)效率，統(tǒng)一檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)和排除人為因素干擾，保證了檢測(cè)結(jié)果的穩(wěn)定性，可重復(fù)性和準(zhǔn)確性，及時(shí)發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品的不良，確保出貨質(zhì)量。

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